產(chǎn)品展示

TFX-R1
TFX-R1———光學(xué)膜厚測量設(shè)備 l 可量測多種材料薄膜 l 提供薄膜可靠和精確的厚度、折射率、成分比率和應(yīng)力測量 l 輸出產(chǎn)能高,具有較高的性價比 l 光斑尺寸更小? l 可量測范圍更寬廣,超厚膜和超薄膜量測能力更穩(wěn)定 l 全新橢圓偏振光路設(shè)計 l 機(jī)械運動性能可靠,穩(wěn)定性表現(xiàn)卓越 l 功能豐富、易用的軟件和算法 l 全面支持工廠自動化要求
TFX4000i
TFX4000i——薄膜厚度測量設(shè)備 l 可量測多種材料薄膜 l 提供薄膜可靠和精確的厚度、折射率、成分比率和應(yīng)力測量 l 輸出產(chǎn)能高,具有較高的性價比 l 可量測范圍更寬廣,超薄膜量測能力更穩(wěn)定 l 機(jī)械運動性能可靠,穩(wěn)定性表現(xiàn)卓越 l 功能豐富、易用的軟件和算法 l
TFX3000P
TFX3000P——薄膜厚度測量設(shè)備 l 可量測多種材料薄膜 l 提供薄膜可靠和精確的厚度、折射率、成分比率和應(yīng)力測量 l 低持有成本(COO),輸出產(chǎn)能高,具有極高的性價比 l 機(jī)械運動性能可靠,穩(wěn)定性表現(xiàn)卓越 l 功能豐富、易用的軟件和算法 l 全面支持工廠自動化要求